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Plongée au coeur du « nanomonde » : zoom sur la formation Microscopie Electronique à Balayage (MEB) et microanalyse X

Grenoble INP - UGA

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25/06/2019

La microscopie électronique à balayage est devenue en 50 ans un outil indispensable dans l’exploration de « l’infiniment petit ». En constante évolution, elle s'applique aujourd'hui à de très nombreux secteurs d’activité tels que la science des matériaux, les nanotechnologies, la biologie, la géologie, la médecine, jusqu'aux laboratoires de police scientifique.

                

                             img_1381398262459.jpg                                                 

         En 2020, la formation Microscopie Electronique à Balayage (MEB) et microanalyse X fêtera ses 40 ans d’existence au sein du département Formation Continue de Grenoble INP.

Avec près de 1800 personnes formées depuis 1980, cette formation emblématique qui détient le record de longévité à Grenoble INP, a su s’adapter aux évolutions technologiques, pour répondre aux besoins des entreprises et accompagner les professionnels tout au long de leur carrière.


La microscopie électronique à balayage (MEB) : une technique puissante d’observation


La microscopie électronique à balayage MEB est une technique d’observation capable d’imager des objets à différentes échelles, allant du millimètre à quelques nanomètres.

Le « nanomonde » correspond au monde des objets dont la taille est environ 10 000 fois inférieure à celle d’un cheveu. Dans un MEB, un faisceau d’électrons balaye la surface de l’échantillon et engendre l’émission d’un signal secondaire (électrons secondaires, électrons rétrodiffusés…), qui sera à son tour analysé et permettra la construction d’une image de topographie ou de composition chimique de la surface de l’échantillon.


La microanalyse X : déterminer la composition chimique
 

La microanalyse X, par spectrométrie X à sélection d’énergie (EDS) fonctionne de pair avec la microscopie électronique à balayage MEB. Cette technique permet la détermination de la composition chimique de la surface de l’échantillon, via l’analyse des photons X générés par ce dernier. La nature des éléments chimiques constituant l’échantillon est alors retranscrite sous forme de spectre, composé de série de pics d'intensité variable mais de positions remarquables, chaque élément chimique ayant sa propre signature.

pollen

La haute technologie au cœur de la formation Grenoble INP


Juste équilibre entre apports théoriques et cas pratiques, la formation Microscopie Electronique à Balayage (MEB) et microanalyse X, s’appuie sur les moyens techniques que met à disposition Grenoble INP au travers de sa plateforme de caractérisation des matériauxCMTC (Consortium des Moyens Technologiques Communs).


Equipés des dernières technologies, les instruments mis à disposition par la plateforme CMTC sont régulièrement renouvelés. Les professionnels peuvent ainsi découvrir des outils de pointe et optimiser leurs connaissances sur des instruments toujours plus performants et conviviaux.


La moitié du temps de formation se déroule sous la forme de travaux pratiques réalisés en petits groupes, ce qui offre aux professionnels l’accès à une grande variété d’instruments (MEB à effet de champ, MEB à pression partielle et MEB environnemental avec systèmes d’analyses EDS associés) ainsi qu’à un large panel d’échantillons à observer.

L’expertise de l’équipe pédagogique


La qualité de cette formation repose également sur l’expertise reconnue au niveau national de son équipe pédagogique, composée dans sa majeure partie d’ingénieurs permanents de la plateforme CMTC et de plusieurs intervenants chercheurs au laboratoire SIMAP (Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés).
 

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16-20 septembre 2019

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